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公告

 

FEI Inspect F50 掃描式電子顯微鏡儀器操作訓練公告


各位學術先進及產業界朋友大家好:


利用掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope)觀察樣品的顯微結構、表面形貌,已在材料、光電、半導體等各領域中成為不可或缺的重要工具。國立中央大學設有一台型號為FEI Inspect F50的場發式掃描電子顯微鏡,目前儀器已開放給各位學術先進及產業界使用。另外,本儀器也搭配能量散射光譜儀(Energy Dispersive Spectrometer, EDS)可測量樣本之組成元素與元素分佈。


為培養電子顯微鏡操作人才,特別製作簡易操作手冊,並提供每人達20小時以上之機台操作教育訓練之機會。本訓練梯次將於6月16開始,訓練時間約三個月左右,且本梯次限5個人,超過人數將以下列條件為優先:

(1) 博士班學生

(2) 實驗室無儀器操作人才

如若實驗室已有博士班學生會操作者,會將機會優先讓給其他未有儀器操作人才之實驗室。原則上每梯次、每實驗室限一人參加機台操作訓練。


如有意參加SEM操作訓練者,請於6月16日中午13:30於SEM實驗室外面集合,我們將決定本梯次SEM操作訓練人員。如人數超過5人將依上述兩條件進行篩選,若人數還有多則將以抽籤方式決定。

 

 

儀器負責人:黎蕙瑛 小姐
連絡電話:03-4227251 #27255 or 34934